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  • Gebondete Probe Transistor OutlineSockel mit Silizium-Chip und Gold-Bondpad

    Projekt

    Aufbau und Verbindungstechnik für Hochtemperatursensorik

    Mikrosensoren und Mikrosysteme werden zunehmend prozessnah in Umgebungen mit hohen Temperaturen eingesetzt. Im Projekt sollten Lösungen der Aufbau- und Verbindungstechnik für die Mikrosensorik mit Einsatztemperaturbereichen bis 350 Grad Celsius geschaffen werden.

    Forschungseinrichtung: ifw Jena | Günter-Köhler-Institut für Fügetechnik und Werkstoffprüfung GmbH
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  • Sinterteile mit verkürzter Lösemittelentbinderung und beobachteter Delamination, © Günter-Köhler-Institut für Fügetechnik und Werkstoffprüfung GmbH – ifw Jena

    Projekt

    Untersuchungen des Entbinderns und Sinterns beim Materialextrusionsverfahren

    Ziel des Vorhabens war es, die Einflussfaktoren des Entbinderns und Sinterns auf die resultierenden Werkstoffeigenschaften mittels Materialextrusion (MEX) additiv gefertigter, metallischer Komponenten zu bestimmen.

    Forschungseinrichtung: ifw Jena | Günter-Köhler-Institut für Fügetechnik und Werkstoffprüfung GmbH
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  • Fotografie eines Chips in einem Testaufbau © CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH

    Projekt

    Integrierte Reflektoren für MEMS IR-Strahler (IReMIS)

    Durch eine neuartige Wafermontagelösung wurden MEMS IR Strahler entwickelt, in deren miniaturisiertes Chip Gehäuse ein Reflektor und eine Abdeckkappe integriert wurden. Dadurch sind die Chips hermetisch dicht und weisen eine verbesserte Strahldichte im Spektralbereich über sieben Mikrometer auf.

    Forschungseinrichtung: CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
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  • Teilprozessierter Wafer mit den Emitterstrukturen. Helle Bereiche: Hochdosisimplantation - © CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH

    Projekt

    Glowing Body Silicon Emitter

    Im Projekt Glowing Body Silicon Emitter wurden neuartige, siliziumbasierte Infrarotemitter sowie ein dafür geeignetes Packaging auf Waferlevel entwickelt.

    Forschungseinrichtung: CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
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  • Feder Masse Schwinger aus Silizium  © CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik

    Projekt

    MEMS-Gravimeter (M-Gravi)

    Im Projekt wurden die Grundlagen zur Fertigung langzeitstabiler und kosteneffizienter MEMS-Gravimeter entwickelt. Die Sensoren sollen Orts und zeitaufgelöste Änderungen der Gravitation in mobilen Anwendungen erfassen können etwa zur präzisen Erkundung geologischer Gegebenheiten der Erdoberfläche.

    Forschungseinrichtung: CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
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  • Foto eines Demonstators mit Diamant Silizium Tandemdetektor © CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH

    Projekt

    UV-Visible Light-Hybridsensor aus Diamant und Silizium (UVPD)

    Es wurde eine Sandwich Anordnung, bestehend aus einem Detektor für hartes UV- Licht und einem davon unabhängigen Sensor für sichtbares Licht, entwickelt. Mittels neuartigem Verfahren wurde ein Hybridaufbau basierend auf einem polykristallinen Diamantdetektor über einer Silizium Fotodiode realisiert.

    Forschungseinrichtung: CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
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  • Links: REM Profilübersicht von geätzten Nadeln auf der Silicium-Oberfläche. Rechts unten: Diodenstruktur. Rechts oben: Aufgebauter Fotodiodenchip mit Black Silicon - © CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH

    Projekt

    Black Silicon

    Nanostrukturiertes Silizium weist je nach Strukturgröße und Form signifikant andere optische und elektrische Eigenschaften im Vergleich zum Volumenkristall auf. Es wurden sogenannte Black-Silicon-Strukturen entwickelt, die für neuartige Detektoren im UV- und IR-Bereich zum Einsatz kommen sollen.

    Forschungseinrichtung: CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
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  • Richtungssensitiver Quadrantendetektor ein Millimeter auf Protection Circuit Board - © CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH

    Projekt

    Richtungssensitiver Quadrantendetektor

    Ein winziger und einfach integrierbarer Mikrochip bestimmt die Lichteinfallsrichtung auf wenige Grad genau. Der monolithische Sensor basiert auf vier integrierten Fotodioden in einem 3D-strukturierten Siliziumsubstrat. Die neuentwickelte MEMS-Technologie erlaubt eine kostengünstige Fertigung.

    Forschungseinrichtung: CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
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  • Bild vom Demonstrator: ELISE-02-Modul.  Als eine neue Applikation der Strahler Empfänger Baugruppe mit hermetischem Wafer Level Packaging - © CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH

    Projekt

    Planarisiertes Wafer Level Packaging für Mikrosensoren (PlanWLP)

    Wafer-Level-Bondverfahren erfordern extrem plane und saubere Grenzflächen. Durch übliche Halbleiterprozesse werden die Grenzflächen aber gestört. Das Projekt verfolgt dafür technologiekompatible Planarisierungsverfahren, die auch für solche Sensoren ein hermetisches Wafer-Level-Package ermöglichen.

    Forschungseinrichtung: CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
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  • Teststrukturen PIEZO für die Messung der Piezokoeffizienten - © CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH

    Projekt

    Berechnung und Verifikation von Piezokoeffizienten im Drucksensor-Design-Flow (Piezo)

    Die Kennlinienberechnung piezoresistiver Widerstandsbrücken differiert oftmals mit den an den realisierten Bauelementen gemessenen Kennlinien. Mittels lokaler quantenmechanischer Bestimmung der Piezo-Konstanten wurde diese Fehlerursache bewertet und eliminiert.

    Forschungseinrichtung: CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
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